[发明专利]一种测量热导率的方法及设备有效

专利信息
申请号: 201811115590.7 申请日: 2018-09-25
公开(公告)号: CN109060876B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 姚海民;郭镇斌;沙文浩 申请(专利权)人: 香港理工大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张雪娇;赵青朵
地址: 中国香港*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明提供了一种测量热导率的方法,包括:S1)将待测样品放置于参考材料的一端,待测样品的初始温度为T0;S2)加热待测样品不与参考材料接触的一端,加热的温度为Tf;S3)监测待测样品与参考材料相接触位置温度的变化,记录从某一温度T1增加到另一温度T2(T0≤T1<T2≤Tf)所需的时间为Δt;根据Δt、待测样品的厚度、参考材料的热扩散率及参考材料的热导率得到待测样品的热导率。与现有技术相比,本发明利用已知性质的参考材料量化温度场的增加速率,以还原待测样品的热性质,因此本发明可用于测量具有小尺寸(毫米及亚毫米级)的待测样品,还可用以测量未知其他性质如密度和热容量的待测样品的热导率,且制备测量方法简单,待测样品无需经特殊处理,成本较低。
搜索关键词: 一种 测量 热导率 方法 设备
【主权项】:
1.一种测量热导率的方法,其特征在于,包括:S1)将待测样品放置于参考材料的一端,所述待测样品的初始温度为T0;S2)加热待测样品不与参考材料接触的一端,加热的温度为Tf;S3)监测待测样品与参考材料相接触位置温度的变化,记录从温度T1增加到另一温度T2所需的时间Δt,T0≤T1<T2≤Tf;根据Δt、待测样品的厚度、参考材料的热扩散率和热导率反求待测样品的热导率。
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