[发明专利]飞秒激光成丝等离子体密度测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 201811105266.7 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109100262B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 陈锦明;姚金平;储蔚;刘招祥;许波;万悦芯;张方波;程亚;徐至展 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N9/24 分类号: G01N9/24
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种飞秒激光成丝等离子体密度测量装置和测量方法,该装置中飞秒激光经过两块分束片分成三束光,分别作为泵浦光,第一探测光P1,第二探测光P2。泵浦光在气腔中成丝形成等离子体通道,第一探测光P1经过等离子体通道作为等离子体引入变化量的载体,再由第二探测光P2通过互相关测量观测出变化量的数值从而反推出等离子体密度。其次通过侧向荧光分布解决等离子体纵向分布不均匀问题。本发明具有时间分辨能力高、调节方便和测量精确的特点。
搜索关键词: 激光 等离子体 密度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1.一种飞秒激光成丝等离子体密度测量装置,其特征在于该装置包括:飞秒激光(1)经过第一分束片(2),将所述飞秒激光分为泵浦光和探测光,在所述的泵浦光方向依次是第一合束镜(3)、聚焦透镜(4)、气腔(5)、准直透镜(7)、第一滤波片(8)、第二合束镜(16)、和频晶体(17)和光栅光谱仪(18),所述的探测光经过第二分束片(9)分为第一探测光(P1)和第二探测光(P2),在所述的第一探测光(P1)方向依次是第一延时线(10)、倍频晶体(11)、第二滤波片(12)、缩束系统(13)、第一合束镜(3),第一探测光(P1)在第一合束镜(3)与所述的泵浦光合束后共线入射到所述气腔(5)中,所述的第一探测光(P1)经所述的准直透镜(7)、第一滤波片(8)进入第二合束镜(16);沿所述的第二探测光(P2)方向依次是反射镜(14)、第二延时线(15)、第二合束镜(16),所述第二探测光(P2)经所述第二合束镜(16)与所述的第一探测光(P1)合束后经所述的和频晶体(17)、光栅光谱仪(18)进行互相关测量;所述缩束系统(13)由一块凸透镜和一块凹透镜组合而成,所述第一延时线(10)和第二延时线(15)均是由两块反射镜90°放置并置于可移动平台上构成;所述的等离子体通道(6)的侧向荧光测量装置由在等离子体通道侧向放置的成像透镜(19)和光纤光谱仪系统(20)构成,所述的成像透镜(19)置于所述的等离子体通道(6)的一侧成像透镜(19)的两倍焦距处,所述的光纤光谱仪系统(20)置于成像透镜(19)另一侧两倍焦距处,组成2f‑2f系统,观测其侧向荧光分布,所述光纤光谱仪系统(20)由光纤连接光纤光谱仪主机,将光纤装于光纤支架,并将光纤支架置于可移动平台上构成。
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