[发明专利]一种基于X光的精准测量成像系统在审
| 申请号： | 201811096304.7 | 申请日： | 2018-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109247948A | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 张军;何香颖;侯雨舟 | 申请（专利权）人： | 晓智科技（成都）有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人： | 喻依丰 |
| 地址： | 610000 四川省成都市郫*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于X光的精准测量成像系统，包括用于实时测量照射对象厚度值的厚度测量模块；还包括用来接受厚度测量模块发送的厚度值，并将厚度值带入设有的EI标准范围表中得到相应的曝光参数然后发射X‑射线进行成像的X光成像模块。本发明通过一种完全不同的、一体的、全自动的、低成本的、实时精准的获取待拍摄病患所需X‑射线辐射质量的技术，通过另外的、独立于原始X‑射线影像链的系统，使用可见光、近可见光、超声等，获取病患体型数据，并通过查“EI标准范围表”获取对应的曝光参数，指导X‑射线球管发射对应辐射质量的X‑射线。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 厚度测量模块 测量成像 曝光参数 病患 可见光 近可见光 射线辐射 射线影像 实时测量 体型数据 发射 低成本 超声 球管 成像 照射 发送 辐射 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种基于X光的精准测量成像系统，其特征在于，包括：用于实时测量照射对象厚度值的厚度测量模块；还包括用来接受厚度测量模块发送的厚度值，并将厚度值带入设有的EI标准范围表中得到相应的曝光参数然后发射X‑射线进行成像的X光成像模块。
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