[发明专利]一种中子和γ射线联合探测器有效

专利信息
申请号: 201811091407.4 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN108873053B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 王栋;蔡易平;席治国;张传飞;朱学彬;胡青元;司粉妮;彭星宇;章法强;袁熙 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00;G01T1/16
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种中子和γ射线联合探测器。该联合探测器基于“裂变‑电子收集”原理,利用偏转电场将中子产生的低能电子从γ射线产生的高能电子中分离出来,实现对中子和γ射线的分别测量;同时,对中子产生的电子进行放大,有效提高了中子测量的灵敏度。
搜索关键词: 一种 中子 射线 联合 探测器
【主权项】:
1.一种中子和γ射线联合探测器,其特征在于:所述的联合探测器包括外壳(1)、涂层电极基底(2)、裂变涂层(3)、引出栅极(4)、前偏转栅极(5)、后偏转栅极(6)、γ射线次级电子屏蔽板(7)和电子倍增器件(8);所述的涂层电极基底(2)、引出栅极(4)、前偏转栅极(5)和后偏转栅极(6)位于辐射通道内,γ射线次级电子屏蔽板(7)和电子倍增器件(8)位于辐射通道外,前述的各部件均位于密封的外壳(1)内,外壳(1)内部保持真空环境;所述的涂层电极基底(2)和引出栅极(4)平行放置在与中子和γ射线入射方向垂直的位置,裂变涂层(3)涂覆在涂层电极基底(2)与引出栅极(4)相对的平面上;所述的前偏转栅极(5)和后偏转栅极(6)放置在与中子和γ射线入射方向呈45°角的位置;所述的电子倍增器件(8)的电子入射平面与中子和γ射线入射方向平行,电子倍增器件(8)的对称中心线穿过前偏转栅极(5)的中心;所述的γ射线次级电子屏蔽板(7)位于涂层电极基底(2)和电子倍增器件(8)之间;所述的涂层电极基底(2)和γ射线次级电子屏蔽板(7)为实心平板;所述的引出栅极(4)、前偏转栅极(5)和后偏转栅极(6)为平面丝阵或平面网状结构;所述的涂层电极基底(2)的电压为零,引出栅极(4)和前偏转栅极(5)加载相同的正电压,后偏转栅极(6)加载负电压,引出电场方向由引出栅极(4)指向涂层电极基底(2),偏转电场方向由前偏转栅极(5)指向后偏转栅极(6);中子和γ射线穿过外壳(1),中子与裂变涂层(3)作用后,产生的低能电子经引出电场到达偏转电场,被偏转电场偏转后进入电子倍增器件(8)并放大输出为中子信号;γ射线与涂层电极基底(2)和裂变涂层(3)作用后,产生的高能电子多数沿γ射线飞行方向离开偏转电场区域;涂层电极基底(2)引出中子和γ射线混合信号;γ射线次级电子屏蔽板(7)阻挡γ射线产生的少量高能电子进入电子倍增器件(8)。
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