[发明专利]一种测量弹性金属密封环的壁厚的方法在审

专利信息
申请号: 201811077027.5 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109211083A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 王子羲;李德才;贾晓红;郭飞;黄伟峰;索双富;李永健;刘向锋;刘莹;郭越红 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张建纲
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于测量弹性金属密封环的壁厚的方法,包括:将磁性介质填充至所述弹性金属密封环的待测壁厚的薄壁部分的内腔;将变磁阻式传感器的U形铁芯端面,紧贴至所述待测薄壁部分的外侧,使得所述铁芯、所述待测薄壁部分和所述磁性介质形成磁回路;测量所述变磁阻式传感器U形铁芯线圈上的电感;根据所述电感计算所述待测薄壁的厚度。本发明有效地提高了测量效率,方便地对弹性金属密封环的壁面进行厚度测量,确保对厚度的均匀性进行高效诊断,提高了后续使用弹性金属密封环的密封效率。
搜索关键词: 薄壁 金属密封环 磁阻式传感器 测量弹性 磁性介质 弹性金属 密封环 壁厚 电感 测量效率 电感计算 厚度测量 密封效率 使用弹性 磁回路 均匀性 有效地 壁面 测壁 内腔 铁芯 填充 紧贴 测量 诊断
【主权项】:
1.一种用于测量弹性金属密封环的壁厚的方法,所述弹性金属密封环的材料为非导磁材料,其特征在于,包括:将磁性介质填充至所述弹性金属密封环的待测壁厚的薄壁部分的内腔;将变磁阻式传感器的U形铁芯端面,紧贴至所述待测薄壁部分的外侧,使得所述铁芯、所述待测薄壁部分和所述磁性介质形成磁回路;测量所述变磁阻式传感器U形铁芯线圈上的电感;根据所述电感计算所述待测薄壁的厚度。
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