[发明专利]一种编码光谱成像系统的数据修正方法

摘要

本发明涉及一种编码光谱成像系统的数据修正方法。通过在编码数据重构前，首先对原始数据减暗电流完成暗像元修正，然后通过坏像元定位加像元替代模式完成坏像元校正，最后通过拟合曲面归一化的方式完成编码模板校正，解决系统编码误差和成像误差，提高编码模板数据的准确性，最终提高了编码重构的准确性。

主权项

1.一种编码光谱成像系统的数据修正方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一：对编码模板图像与实际观测图像中的坏像元进行校正；/n步骤1.1)：确定坏像元的位置；/n步骤1.2)：修正编码模板图像与实际观测图像中的坏像元；/n步骤二：对编码模板的模板数据进行修正；/n步骤1.1)具体为：/n首先，在黑暗条件下，对探测器进行成像，确定亮像元位置，记为(X1，Y1)；/n然后，在积分球照射下，再对探测器进行成像试验，确保成像区域的幅值不饱和，确定暗像元位置，记为(X2，Y2)；/n坏像元位置为：/n(X，Y)＝(X1，Y1)||(X2，Y2)；/n步骤1.2)具体为：/n编码模板图像中坏像元的修正：/n当编码光谱成像系统为压缩编码光谱成像系统时，将步骤1.1)中确定的坏像元幅值修正为该像元对应实际设计的编码值；/n当编码光谱成像系统为哈达码编码光谱成像系统时，采用临近点列平均法对亮条纹中的坏像元校正和暗条纹中的坏像元校正；/n实际观测图像中坏像元的修正；/n采用二维窗平均法、插值法或拟合法对步骤1.1)中确定的坏像元位置处的坏像元进行修正；/n临近点列平均法具体为：/n将亮条纹中的暗像元幅值D_d/l(i,j)校正为：1/2*[D_d/l(i,j-1)+D_d/l(i,j+1)]/n将暗条纹中的亮像元幅值D_l/d(i,j)校正为：1/2*[D_l/d(i,j-1)+D_l/d(i,j+1)]/n其中d/l表示亮条纹中的暗像元，l/d表示暗条纹中的亮像元，i，j表示当前像元的位置坐标；/n二维窗平均法具体为：/n假设窗半径大小设置为s，则二维窗平均法可表示为:/n /n其中m，n表示求和时取的位置坐标。/n