[发明专利]DFB阵列扫频光源光纤频域干涉测距系统和方法有效
申请号: | 201811034265.8 | 申请日: | 2018-09-05 |
公开(公告)号: | CN109029271B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 段发阶;程沁蕊;黄婷婷;马凌;李秀明;傅骁 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于激光干涉测距技术,为能够最大程度地提高干涉信号的对比度,同时兼具宽扫频范围和很好的相干性,本发明,DFB阵列扫频光源光纤频域干涉测距系统和方法,DFB阵列扫频光源产生的扫频激光首先进入分光比为20:80宽带光纤耦合器,分出的20%光进入参考的马赫泽德干涉仪MZI;另外的80%光通过分光比为10:90宽带光纤耦合器,10%进入两干涉臂中的参考臂;另外90%进入测试臂,测试臂采用三端环形器结构,所述扫频激光由三端环形器进入光纤探头后射到待测工件表面,从待测工件表面的反射光被同一光纤探头收集,再由三端环形器进入用于合束的耦合器,与参考光发生干涉。本发明主要应用于激光干涉测距场合。 | ||
搜索关键词: | dfb 阵列 光源 光纤 干涉 测距 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种DFB阵列扫频光源光纤频域干涉测距系统,其特征是,DFB阵列扫频光源产生的扫频激光首先进入分光比为20:80宽带光纤耦合器,分出的20%光进入参考的马赫泽德干涉仪MZI,由MZI的光电二极管PD2采集的干涉信号为等波数的参考时钟信号,用于后期主干涉仪的信号重建;另外的80%光通过分光比为10:90宽带光纤耦合器,10%进入两干涉臂中的参考臂,利用带电动位移台的光纤延迟线,用来调节干涉臂的平衡,同时在线匹配两干涉光的光强;另外90%进入测试臂,测试臂采用三端环形器结构,所述扫频激光由三端环形器进入光纤探头后射到待测工件表面,从待测工件表面的反射光被同一光纤探头收集,再由三端环形器进入用于合束的耦合器,与参考光发生干涉;干涉光由铟镓砷InGaAs PIN型光电探测器进行光电转换,经过放大器和滤波器放大并滤波后被ADC模数转换器采集,其中ADC采集的时钟信号是由扫频光源的触发信号时钟产生的,并根据参考MZI干涉仪的PD2采集来的干涉信号作为信号重建的时钟信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811034265.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:舞台台面位移监测平台
- 下一篇:一种双通道光栅位移测量方法