[发明专利]涉及在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备和系统有效
| 申请号： | 201811020943.5 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN109949853B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 张修宁;车镇烨 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/50;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;郭放 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种涉及在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备和系统。所述系统可以包括第一半导体设备和第二半导体设备。第一半导体设备和第二半导体设备中的每一个可以接收参考数据和第一时钟信号。第一半导体设备可以从第一时钟信号产生第一内部时钟信号，并且可以基于第一内部时钟信号将参考数据输出为传输数据。第二半导体设备可以从第一时钟信号产生第二内部时钟信号，并且可以基于第二内部时钟信号接收传输数据。第二半导体设备可以基于参考数据和接收到的数据产生错误检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 涉及 低速 操作 环境 执行 高速 测试 半导体设备 系统 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：第一半导体设备和第二半导体设备，其中，所述第一半导体设备基于从第一时钟信号产生的第一内部时钟信号将参考数据输出为传输数据，以及其中，所述第二半导体设备通过基于从所述第一时钟信号产生的第二内部时钟信号接收所述传输数据来产生接收数据，以及基于所述接收数据和所述参考数据来产生错误检测信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司，未经爱思开海力士有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811020943.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体器件和包括该半导体器件的半导体系统
- 下一篇：存储系统及其操作方法
