[发明专利]一种贴合异物缺陷与灰尘的区分方法及系统有效
申请号: | 201811009530.7 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN109100363B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 时广军;姚毅;马增婷;路建伟 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/94 | 分类号: | G01N21/94;G01N21/956 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种贴合异物缺陷与灰尘的区分方法及系统。所述方法通过对垂直和倾斜两个方向上分别采集的第一图像和第二图像进行分析,计算得到每个目标点在两幅图像中的位置偏移量,再通过对比目标点的位置偏移量和区分偏移量阈值,确定目标点是贴合异物缺陷点还是灰尘点。所述方法能够通过两个相机获取的测试液晶屏图像,并对测试液晶屏上的目标点位置偏移量进行判断,自动区分测试液晶屏上的贴合异物和灰尘,解决传统方法不能准确区分贴合异物缺陷和灰尘的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 贴合 异物 缺陷 灰尘 区分 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种贴合异物缺陷与灰尘的区分方法,其特征在于,包括:通过垂直相机获取测试液晶屏的第一图像,以及通过倾斜相机获取所述测试液晶屏的第二图像;遍历所述第一图像和第二图像,分别提取所述第一图像和第二图像中的所有目标点的位置信息,并生成准缺陷集合U1和目标点集合U2;逐一对比所述准缺陷集合U1与所述目标点集合U2中的目标点位置信息,计算所述第一图像每一个位置上对应目标点之间的位置偏移量;对比计算的位置偏移量与预设的区分偏移量阈值;如果所述位置偏移量小于或等于所述区分偏移量阈值,确定所述目标点为贴合异物缺陷点;如果所述计算偏移量大于所述区分偏移量,确定所述目标点为灰尘点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于凌云光技术股份有限公司,未经凌云光技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811009530.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。