[发明专利]一种半导体存储器高低温老化测试箱在审
| 申请号： | 201811003682.6 | 申请日： | 2018-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN109119127A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;张庆勋;邓标华;周璇 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于半导体存储器高低温老化测试技术领域，公开了一种半导体存储器高低温老化测试箱,设置有常温区，以及一组或多组由第一温度区、第二温度区、隔离区构成的测试区；两个温度区的温差恒定；常温区用于放置上位机、交换机，设置有为上位机和交换机散热的散热装置；测试区用于放置半导体存储器老化测试设备；第一温度区用于放置老化测试系统的第一背板，以及在第一背板上可拔插的测试核心板；第二温度区用于放置第二背板和在第二背板上可拔插的测试板；隔离区设置有直通板，通过直通板将位于第一温度区的测试核心板发送的测试信号和电源信号传输到位于第二温度区的测试板；隔离区侧面设置有对直通板散热的散热器，以减少第二温度区温度对第一温度区的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 温度区 半导体存储器 背板 高低温 隔离区 直通板 老化测试箱 测试板 测试区 常温区 核心板 上位机 散热 拔插 交换机 散热器 电源信号传输 老化测试技术 老化测试设备 老化测试系统 测试 侧面设置 测试信号 散热装置 温差恒定 发送 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器高低温老化测试箱，其特征在于，设置有一组或多组由第一温度区、第二温度区和设置在第一温度区与第二温度区之间的隔离区构成的测试区；所述第一温度区的温度为恒定值，或设置成跟踪第二温度区温度的温度范围；所述测试区用于放置半导体存储器老化测试设备；其中，第一温度区用于放置第一背板，以及在第一背板上可拔插的测试核心板；第二温度区用于放置第二背板，以及在第二背板上可拔插的测试板；所述隔离区设置有直通板，通过直通板将位于第一温度区的测试核心板发送的测试信号和电源信号传输到位于第二温度区的测试板；隔离区侧面设置有对直通板散热的散热器。
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