[发明专利]校正X-ray探测器中的探测通道的方法

摘要

本申请公开了一种校正X‑ray探测器中的探测通道的方法，其包括：S1，运算放大器向比较器的第一输入端提供基准信号，控制器控制比较器的第二输入端的电压，并且计数器记录比较器在不同的电压下输出的信号的跳变次数；S2，处理器计算每个探测通道所对应的所有跳变次数当中的按顺序记录的跳变次数两两之间的差值，并且根据差值来计算探测通道的响应电压；S3，处理器根据响应电压和光信号的能量峰值来计算探测通道的校正系数，并且根据校正系数来计算探测通道校正后的响应电压。通过本申请提供的方法，可以利用X‑ray探测器的内部器件来采集探测通道输出的电信号并计算校正后的响应电压，而不需要额外的器件来采集电信号，因而降低了硬件开销和成本。

主权项

1.一种校正X‑ray探测器中的探测通道的方法，所述X‑ray探测器还包括运算放大器、比较器、控制器、计数器和处理器，其特征在于，所述方法包括：步骤S1，所述运算放大器向所述比较器的第一输入端提供基准信号，所述控制器控制所述比较器的第二输入端的电压，并且所述计数器记录所述比较器在不同的所述电压下输出的信号的跳变次数，其中，所述基准信号是所述运算放大器通过对所述探测通道响应于放射源发出的光信号而产生的电信号进行放大处理后得到的；步骤S2，所述处理器计算每个所述探测通道所对应的所有所述跳变次数当中的按顺序记录的跳变次数两两之间的差值，并且根据所计算的所述差值来计算每个所述探测通道的响应电压；步骤S3，所述处理器根据所得到的所述响应电压和所述光信号的能量峰值来计算每个所述探测通道的校正系数，并且根据所述校正系数来计算每个所述探测通道校正后的响应电压。