[发明专利]测量微粒粒径的系统有效
| 申请号： | 201810973274.7 | 申请日： | 2018-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN110857909B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 张达;王继军;江学舟 | 申请（专利权）人： | 北京世纪朝阳科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100081 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及测量微粒粒径的系统。该系统包括：传感器及鉴别放大电路，用于接收待测微粒散射光并产生多个脉冲信号；电子电路，用于确定多个脉冲信号的接收时刻；计算机，被配置为：在测量时间段内，根据多个脉冲信号的接收时刻以及至少一个相关时间中的多个采样时间段，分别确定每个采样时间段内的脉冲信号数量；根据多个采样时间段内的脉冲信号数量，分别计算每个相关时间的相关函数值；根据至少一个相关时间的相关函数值，获得待测微粒的直径或半径值。本公开的测量微粒粒径的方法，可以减小硬件电路的复杂程度，可以应对高计数情况，可以对不同相关时间设置不同的采样时间，以减小随机误差及系统误差，提高微粒粒径测量的速度及精度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 微粒 粒径 系统 | ||
【主权项】：
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