[发明专利]三维测量装置有效

专利信息
申请号: 201810970279.4 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN109425296B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 田中康司;齐藤贵昭;吉野健一郎;鹿子木满 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 玉昌峰;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能避免挡板的切换动作并能确保相对广的测量范围的三维测量装置。三维测量装置(1)具备:光源部(31),射出测距光(35);投光光学部(33),向测距光轴(32)上照射测距光(35);扫描镜(7),在相对于旋转轴(6)的轴心倾斜的状态下设置成以旋转轴(6)为中心能够旋转,在与旋转轴(6)交叉的面内旋转照射测距光(35);受光光学部(41),接收反射测距光(37);参照光光学部(24),设置在照射范围中测量范围以外的范围中,将在扫描镜(7)反射的测距光(35)作为内部参照光(36)接收并反射,能改变反射的内部参照光(36)的光量;受光元件(42),接收反射测距光(37)和从参照光光学部(24)引导的内部参照光(36)。
搜索关键词: 三维 测量 装置
【主权项】:
1.一种三维测量装置,向测量对象物照射测距光,根据所述测距光在所述测量对象物反射的反射测距光和内部参照光测量到所述测量对象物的距离,并检测所述测距光的照射方向,从而获取所述测量对象物的三维数据,其特征在于,具备:光源部,射出所述测距光;投光光学部,将从所述光源部射出的所述测距光照射在测距光轴上;扫描镜,在相对于旋转轴的轴心倾斜的状态下设置成能够以所述旋转轴为中心旋转,将从所述投光光学部引导的所述测距光旋转照射在与所述旋转轴交叉的面内;受光光学部,接收在所述测量对象物反射并经由所述扫描镜引导的所述反射测距光;参照光光学部,能设置在通过所述扫描镜旋转照射所述测距光的照射范围中所述测距光照射所述测量对象物的测量范围之外的范围中,将在所述扫描镜反射的所述测距光作为所述内部参照光接收并反射,改变反射的所述内部参照光的光量;以及受光元件,接收所述反射测距光和从所述参照光光学部引导的所述内部参照光。
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