[发明专利]基于机电耦合的变形有源相控阵雷达探测性能快速评估方法有效
| 申请号： | 201810966463.1 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN109031226B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 王从思;修建雨;袁帅;王志海;李明荣;王璐;于坤鹏;严粤飞;王伟;王猛;王飞朝;曹运合 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 姚咏华 |
| 地址： | 710075 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于机电耦合的变形有源相控阵雷达探测性能快速评估方法，该方法包括：1)确定有源相控阵雷达的阵列天线阵元类型；2)确定阵列天线的结构参数和电磁工作参数；3)基于阵列天线辐射原理，计算理想天线方向图及天线重要性能参数；4)对雷达天线在某种工作环境载荷下进行结构分析；5)得到阵列天线单元结构位移；6)根据天线结构变形前后雷达主要探测性能分析参数模型，快速确定变形后雷达主要探测性能指标。本发明实现了由于雷达在环境载荷作用下，天线阵面发生结构变形后，雷达探测性能的快速预测与分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 机电 耦合 变形 有源 相控阵 雷达 探测 性能 快速 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.基于机电耦合的变形有源相控阵雷达探测性能快速评估方法，其特征在于，包括下列过程：(1)确定有源相控阵雷达的阵列天线阵元类型，以及阵列天线的结构参数和电磁工作参数；(2)基于阵列天线辐射原理，计算理想阵列天线的方向图，并得到包括增益、副瓣和3dB波瓣宽度等阵列天线重要性能参数；(3)对所处某种工作环境载荷的雷达天线进行结构分析；(4)得到阵列天线单元结构位移，即阵列天线阵元中心采样节点Qi变形后的位移(Δxi,Δyi,Δzi)，并计算变形后采样点的新坐标(xi+Δxi,yi+Δyi,zi+Δzi)；(5)由步骤(2)中包括增益、副瓣和3dB波瓣宽度等理想阵列天线重要性能参数和步骤(4)中天线单元结构位移，结合阵列天线结构变形前后雷达主要探测性能分析参数模型，确定天线发生结构变形后的雷达主要探测性能指标。
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