[发明专利]太赫兹漏波天线测量系统有效

专利信息
申请号: 201810965187.7 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN109142890B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 郑小平;张德鉴;刘佳明;白胜闯;韩侠辉;欧湛;李志杰;李佳 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 赵永辉
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种太赫兹漏波天线测量系统,在沟槽内放置探针天线,并在沟槽内移动探针天线,可以采集移动过程中的探针天线所处位置的振幅与相位分布信息,实现了馈源天线与辐射腔体的分离。根据互易定理外推,实现了天线远场测试。太赫兹漏波天线测量系统相比于直接改变所述发射装置中馈源天线的位置,大幅减少了对原本天线结构的破坏程度,提高了测试精度。同时简单易行,可以给馈源安装、调整提供综合的参考。在完成太赫兹漏波天线测量系统一体化测试的同时,通过探针天线的移动寻找远场增益最大处,以确定实际相位中心位置,有效解决了二维漏波天线中馈源实际相位中心修正问题。
搜索关键词: 赫兹 天线 测量 系统
【主权项】:
1.一种太赫兹漏波天线测量系统(100),其特征在于,包括:弓形梁(10);发射装置(20),设置于所述弓形梁(10);辐射腔体(30),设置于所述弓形梁(10)的圆心位置,所述辐射腔体(30)内设置有沟槽(310);探针天线(40),设置于所述沟槽(310)。
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