[发明专利]一种光学污染物筛查装置及方法在审
| 申请号： | 201810933135.1 | 申请日： | 2018-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN108982368A | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 李久喜;金煜坚;季云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 于金平 |
| 地址： | 100015*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学污染物筛查装置及方法，本发明通过将激光器内部所选用材料分别进行挥发物测试，判断该材料是否对光学膜片安全。也就是说，本发明将可疑的污染物单独测试，从而实现能够准确的定位污染源。 | ||
| 搜索关键词： | 污染物 筛查装置 挥发物 测试 光学膜片 激光器 污染源 安全 | ||
【主权项】：
1.一种光学污染物筛查装置，其特征在于，包括：带有通光窗口的样品盒，用于透过高峰值功率激光，并模拟待测激光器内部构成材料在激光器高温工作状态下所处的环境状态，以测试所述待测激光器内部构成材料的高温挥发性；其中，所述样品盒为一个，或者为依次连续排列的多个，当所述样品盒为多个时，所述样品盒内均设有一种激光器内部材料的测试样品；能量计，用于对所述样品盒透过的高峰值功率激光进行测量。
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