[发明专利]一种光学污染物筛查装置及方法

权利要求书

1.一种光学污染物筛查装置，其特征在于，包括：

带有通光窗口的样品盒，用于透过高峰值功率激光，并模拟待测激光器内部构成材料在激光器高温工作状态下所处的环境状态，以测试所述待测激光器内部构成材料的高温挥发性；其中，所述样品盒为一个，或者为依次连续排列的多个，当所述样品盒为多个时，所述样品盒内均设有一种激光器内部材料的测试样品；

能量计，用于对所述样品盒透过的高峰值功率激光进行测量。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：

半导体制冷器，用于分别承载所述样品盒，并对所述样品盒进行加热。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，还包括：

承载平台，用于承载所述半导体制冷器。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：

脉冲激光器，用于产生所述高峰值功率激光。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的装置，其特征在于，还包括：

处理器，用于根据所述能量计检测的能量值确定所述测试样品的挥发性。

6.一种光学污染物筛查方法，其特征在于，所述方法应用权利要求1-5中任意一项所述的装置，包括：

通光窗口的样品盒内设有待测激光器内部构成材料，通过半导体制冷器将所述样品盒加热，使所述样品盒模拟待测激光器内部构成材料在激光器高温工作状态下所处的环境状态；

根据能量计检测的通过样品盒的能量值测试所述待测激光器内部构成材料的高温挥发性；

其中，所述样品盒为一个，或者为依次连续排列的多个，当所述样品盒为多个时，所述样品盒内均设有一种激光器内部材料的测试样品。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

通过脉冲激光器产生所述高峰值功率激光。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，根据能量计检测的通过样品盒的能量值测试所述待测激光器内部构成材料的高温挥发性，包括：

通过处理器根据所述能量计检测的能量值确定所述待测激光器内部构成材料的挥发性。