[发明专利]一种快速筛选仿钻的方法在审
| 申请号： | 201810930251.8 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN108956576A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 宋光均;蒋之辉;吴剑峰;黄振威;秦超;姚少浩;饶福原;初天伟;杨兴忠;何俊杰 | 申请（专利权）人： | 广州标旗光电科技发展股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/87 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 肖宇扬;付静 |
| 地址： | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速筛选仿钻的方法，激发被测样品发光的光为含有400‑900nm范围内部分波长或全部波长的入射光，光源辐射面积大，对仿钻在该光源激发下产生的860‑1100nm波长范围内的光成像并检测。于现有技术中的其它检测方式，该方法简单高效，对设备要求低，可实现大批量筛查。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 快速筛选 被测样品 光源辐射 光源激发 对设备 光成像 入射光 检测 筛查 发光 激发 | ||
【主权项】：
1.一种快速筛选仿钻的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将含有400‑900nm范围内波长的入射光同时照射到大面积的被测区域，该被测区域可放置大量被测样品，入射光用于激发被测样品，将入射光激发而发出的光通过滤光组件滤出含有860nm到1100nm范围内波长的光，将所述滤出的光导入成像系统,如果成像系统显示发光的亮点，将发光的亮点对应的被测样品怀疑为仿钻。
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