[发明专利]太赫兹波偏振态的表征方法及时间分辨焦平面成像系统有效
| 申请号： | 201810919664.6 | 申请日： | 2018-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN109238466B | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 王新柯;张岩 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 100048 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种太赫兹波偏振态的表征方法。该方法包括：根据矢量叠加原理计算汇聚太赫兹波产生的纵向电场分量；计算汇聚太赫兹波在两个正交的径向横截面产生的纵向复合电场；在所述纵向复合电场的分布图上提取偏振态信息；利用所述偏振态信息表征太赫兹波的偏振态。本发明实施例的方法，基于对汇聚太赫兹波在焦平面附近引发的纵向电场的分布进行分析，通过对振幅分布图像和相位分布图像进行合适的采样，获得太赫兹波偏振态的偏振特征参数以及偏振旋转方向，算法简单、运算量小、且能够精确表征太赫兹波偏振态，实现对太赫兹波偏振态的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 偏振 表征 方法 时间 分辨 平面 成像 系统 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹波偏振态的表征方法，其特征在于，所述方法包括：根据矢量叠加原理计算汇聚太赫兹波在观测面上产生的纵向电场分量；计算汇聚太赫兹波由两个正交的径向横截面产生的纵向复合电场；在所述纵向复合电场的分布图上提取偏振态信息；利用所述偏振态信息表征太赫兹波的偏振态。
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