[发明专利]用于绝缘子的芯棒体积电阻率测量设备有效
| 申请号： | 201810904665.3 | 申请日： | 2018-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN109030952B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 张锐;袁田;武文华;袁金灿;刘翔;王昱晴;张虎;代静;汪英英;唐芳;张秋芬 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 胡秋立 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于绝缘子的芯棒体积电阻率测量设备，该设备包括：温湿度调节箱，用于为待测芯棒提供温、湿度恒定的密封测试环境；设置于所述温湿度调节箱内壁上的滑动导轨；可滑动地设置于所述滑动导轨上的体积电阻率测试仪，用于夹设所述待测芯棒并对其进行体积电阻率的测量。本发明温湿度调节箱内的密封测试环境中对待测芯棒进行体积电阻率的测量，不仅可以确保温、湿度恒定的密封测试环境，以便避免环境变化影响测量精度，同时，在温湿度调节箱内测量可避免待测芯棒所在电路中漏电致使的安全隐患，且可避免外部人员接触可避免待测芯棒所在电路，进而进一步提高测量的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 绝缘子 体积 电阻率 测量 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于绝缘子的芯棒体积电阻率测量设备，其特征在于，包括：温湿度调节箱(1)，用于为待测芯棒(8)提供温、湿度恒定的密封测试环境；设置于所述温湿度调节箱(1)内壁上的滑动导轨(2)；可滑动地设置于所述滑动导轨(2)上的体积电阻率测试仪(3)，用于夹设所述待测芯棒(8)并对其进行体积电阻率的测量。
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