[发明专利]一种具有高热稳定性、低功耗性能的多层相变薄膜材料有效
申请号: | 201810902452.7 | 申请日: | 2018-08-09 |
公开(公告)号: | CN109273596B | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 胡益丰;张锐;郭璇;尤海鹏;朱小芹;邹华 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;B82Y10/00;B82Y30/00 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 陈丽萍 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种微电子领域的材料,具体涉及一种用于高速相变存储器的ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜材料。ZnSb薄膜和GaSb薄膜交替排列,其中,单层ZnSb薄膜的厚度为1~10nm,单层GaSb薄膜的厚度为1~10nm,所述ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜总厚度为2~100nm。利用类超晶格结构的特殊性,可以减少加热过程中的热量散失,降低薄膜的整体热导率,从而提高相变速度。其次,利用类超晶格结构中多层界面的夹持效应,可以减小晶粒尺寸,从而缩短结晶时间,抑制晶化,在提高热稳定性的同时加快相变速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 高热 稳定性 功耗 性能 多层 相变 薄膜 材料 | ||
【主权项】:
1.一种ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜,其特征在于:所述ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜由单层ZnSb薄膜和单层GaSb薄膜交替堆叠排列成多层膜结构。
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