[发明专利]一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201810895170.9 申请日: 2018-08-08
公开(公告)号: CN109187584A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 胡跃明;张睿;罗展豪 申请(专利权)人: 华南理工大学;广州精速电子科技有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G01B11/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 王东东
地址: 511458 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法,包括双视觉检测单元、上位机、真空吸附平台及载物平台,所述真空吸附平台设置在载物平台上,所述双视觉检测单元设置在载物平台的上方;所述双视觉检测单元包括精密显微镜成像视觉系统及工业摄像机成像视觉系统;本发明将真空吸附平台安装在高精密载物平台上,配合双视觉检测单元,解决了光照不均匀对图像采集的影响,提高图像的成像质量。
搜索关键词: 视觉检测单元 载物平台 真空吸附平台 缺陷检测系统 柔性印制电路 混合场景 视觉系统 成像 工业摄像机 显微镜成像 图像采集 不均匀 高精密 上位机 光照 精密 图像 配合
【主权项】:
1.一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统,其特征在于,包括双视觉检测单元、上位机、真空吸附平台及载物平台,所述真空吸附平台设置在载物平台上,所述双视觉检测单元设置在载物平台的上方;所述双视觉检测单元包括精密显微镜成像视觉系统及工业摄像机成像视觉系统;所述工业摄像机成像视觉系统包括工业摄像机及穹顶光源;所述精密显微镜成像视觉系统包括精密显微镜及卤素光源;真空吸附平台在工业摄像机及精密显微镜的视场范围内;所述上位机控制载物平台上的待检测柔性印制电路移动到双视觉检测单元的下方,并控制双视觉检测单元进行图像采集,并按照对应工序场景,对采集的图像进行处理,并实现相关检测功能,上位机设有数据库,用于存储柔性印制电路的产品批次,及批次所对应的标准参数。
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