[发明专利]测量装置有效
| 申请号： | 201810859908.6 | 申请日： | 2018-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN109387502B | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 桥口雅史;梁田敏雄;福岛安秀;鹰尾干彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01N21/76 | 分类号： | G01N21/76 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 王永伟;赵蓉民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检测光强度为微弱的光的测量装置。其包括对光(L)进行受光并产生信号的受光元件(21)、传递所述信号的电布线(28)、由覆盖所述受光元件(21)的导电性构件来形成的框体(24)、包括具有导电性的导电部(12)并透过光(L)的光学窗(11)、形成在连接受光元件(21)和放大器(22)的所述电布线(28a)周围的布线包围部件(23)，并且，导电部(12)和框体(24)与布线包围构件(23)电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量装置，其特征在于包括：受光元件，其对光进行受光并产生信号；框体，其由覆盖所述受光元件的导电性构件来形成；光学窗，其包括具有导电性的导电部并透过所述光；电布线，其传递所述信号，和布线包围构件，其形成在所述电布线的周围，所述导电部和所述框体与所述布线包围构件电连接。
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