[发明专利]形成钴接触模组的方法及藉此形成的钴接触模组有效
申请号: | 201810840535.8 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN109309046B | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | 方强;黄海苟;萨法特·阿梅德;伍昌鸿;D·R·库利 | 申请(专利权)人: | 格芯(美国)集成电路科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/528 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及形成钴接触模组的方法及藉此形成的钴接触模组,其揭示一种形成Co(钴)接触模组的方法,该方法包括在沟槽块体上沉积衬垫层,以Co作为第一金属将已内衬的沟槽部分地镀覆而使得所产生的Co层在最浅沟槽的开放顶端表面下面具有顶端表面,在该Co层、及该衬垫层的曝露表面上沉积第二金属,将该第二金属层平坦化,以及蚀刻该第二金属层、及该衬垫层的部分。本发明也涉及通过所提方法所形成的Co接触模组。 | ||
搜索关键词: | 形成 接触 模组 方法 藉此 | ||
【主权项】:
1.一种形成钴(Co)接触模组的方法,该方法包含:在沟槽块体上沉积衬垫层,使得该沟槽块体的顶端表面上方、及该沟槽块体的沟槽的侧壁与底端部分上沉积该衬垫层;以Co作为第一金属将该沟槽部分地镀覆,使得该沟槽内形成Co层,并且该Co层的顶端表面位于最浅沟槽的开放顶端表面下面;沉积第二金属,使得该Co层、及该衬垫层的曝露表面上方形成第二金属层,并且该第二金属层的顶端表面位于最深沟槽的开放顶端表面上面;将该第二金属层平坦化,使得该第二金属层的该顶端表面变为与该最深沟槽的该开放顶端表面近似共面;以及蚀刻该第二金属层、及该衬垫层的部分,使得该受蚀刻的第二金属层的顶端表面与该最浅沟槽的该开放顶端表面近似共面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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