[发明专利]一种致密储层孔隙可动流体侵入剖面成像方法有效

专利信息
申请号: 201810803065.8 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN108915676B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 陈义国;贺永红;张佳琪;马芳侠;李晓路;孟旺才;刘护创;杨超;刘延哲;张庆;邓南涛;吴凤;李广涛;王超;马二平;张洪美 申请(专利权)人: 陕西延长石油(集团)有限责任公司研究院
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/10;G06T11/40
代理公司: 西安亿诺专利代理有限公司 61220 代理人: 贺珊
地址: 710000 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明基于阵列感应测井电阻率数据,提出一种致密储层孔隙可动流体侵入剖面成像方法。一种致密储层孔隙可动流体侵入剖面成像方法,包括如下步骤:步骤(1):数据校正;步骤(2):插值重采样;步骤(3):颜色刻度:将上述S’(x’,y’)进行颜色刻度,将电阻率值以从小到大的顺序进行色彩由暗到亮刻色,形成可动流体侵入剖面成像图。本发明提出的方法弥补了成像测井、岩心实验法与核磁共振T2谱探测深度浅、采集率低、代表性差的缺陷,可直观显示致密储层径向120in深度范围内孔隙连通性与可动流体分布特征。
搜索关键词: 一种 致密 孔隙 流体 侵入 剖面 成像 方法
【主权项】:
1.一种致密储层孔隙可动流体侵入剖面成像方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤(1):数据校正:对全井阵列感应测井电阻率值进行数据校正,全井电阻率值校正范围为0~255;步骤(2):插值重采样:以探测深度为x坐标(x≤120in),以校正后电阻率为y坐标,作为插值样本点S(x,y);将径向最大探测深度均匀等分,以使径向采样间隔与纵向采样间隔尽量一致或接近;以等分后的径向探测深度值作为插值重采样x’坐标,利用插值样本点数据,应用分段线性插值法重采样得到S’(x’,y’);步骤(3):颜色刻度:将上述S’ (x’,y’)进行颜色刻度,将电阻率值以从小到大的顺序进行色彩由暗到亮刻色,形成可动流体侵入剖面成像图。
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