[发明专利]一种阵列基板的栅极线的测试线路有效

专利信息
申请号: 201810785149.3 申请日: 2018-07-17
公开(公告)号: CN108873525B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 宋乔乔 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G09G3/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种阵列基板的栅极线的测试线路。阵列基板包括级联的多个GOA单元、多条时钟信号线、多条栅极线、多条数据线、以及栅极线和数据线交叉排列限定的多个像素区域的像素电极;其中,时钟信号线分别与对应的GOA单元连接,GOA单元与对应的栅极线连接;测试线路包括测试垫,测试垫设置在阵列基板之外的彩膜基板或信号板上,测试垫用于测试栅极线上的扫描信号是否异常。通过上述方式,本发明不需要进行裂片操作即可测试扫描信号,方式简单、准确度高。
搜索关键词: 栅极线 阵列基板 测试线路 测试垫 时钟信号线 测试扫描信号 数据线交叉 彩膜基板 裂片操作 扫描信号 像素电极 像素区域 准确度 数据线 信号板 级联 测试
【主权项】:
1.一种阵列基板的栅极线的测试线路,其特征在于,所述阵列基板包括级联的多个GOA单元、多条时钟信号线、多条栅极线、多条数据线、以及所述栅极线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域的像素电极;其中,所述时钟信号线分别与对应的所述GOA单元连接,所述GOA单元与对应的所述栅极线连接,所述GOA单元用于在所述时钟信号线上的时钟信号的驱动下在所述栅极线上产生扫描信号以驱动所述像素电极;所述测试线路包括测试垫,所述测试垫设置在所述阵列基板之外的彩膜基板或信号板上,所述测试垫用于测试所述栅极线上的所述扫描信号是否异常;当所述测试垫设置在所述彩膜基板上时,所述测试垫为多个,所述测试垫与所述像素电极一一对应且重叠设置,所述测试垫与电容的一端电连接,所述像素电极与所述电容的另一端电连接。
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