[发明专利]一种压电陶瓷片应力测量方法及测量装置在审
| 申请号： | 201810727653.8 | 申请日： | 2018-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN109141710A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 孙艳玲;郭佳佳;刘宇刚;鲁振中;于文东 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学;中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 孙涛涛 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种压电陶瓷片应力测量方法及测量装置，所述测量方法包括：调节施加在压电陶瓷片上的电压，并获取施加电压前的第一接触压力以及施加电压后的第二接触压力；根据所述第一接触压力和所述第二接触压力计算所述压电陶瓷片的应力值。所述测量装置包括电源、支撑杆、两个位移台、两个力传感器以及显示仪器。本发明的测量方法和测量装置通过力传感器测量不同加压或降压条件下所述压电陶瓷片两端的压力，从而能够获知所述压电陶瓷片本身的性能特点，装置成本低，便于准确、可靠地筛选性能良好的压电陶瓷片。 | ||
| 搜索关键词： | 压电陶瓷片 测量装置 接触压力 施加电压 应力测量 测量 力传感器测量 降压条件 力传感器 显示仪器 性能特点 装置成本 位移台 支撑杆 获知 加压 电源 筛选 施加 | ||
【主权项】：
1.一种压电陶瓷片应力测量方法，其特征在于，所述方法包括：调节施加在压电陶瓷片上的电压，并获取施加电压前的第一接触压力以及施加电压后的第二接触压力；根据所述第一接触压力和所述第二接触压力计算所述压电陶瓷片的应力值。
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