[发明专利]消除色差的发光芯片分档方法及分档发光芯片的应用方法在审
申请号: | 201810711682.5 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN109103119A | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 苗静;陈宇;程宏斌;毛新越;丁铁夫 | 申请(专利权)人: | 长春希达电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 王淑秋 |
地址: | 130103 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种消除色差的发光芯片分档方法及档位发光芯片的应用方法;发光芯片分档方法如下:测试LED发光芯片的CIE1931色坐标;根据色度学理论中的麦克亚当颜色椭圆宽容量范围结合屏幕显示效果确定红、绿、蓝三基色的人眼恰可识别CIE1931色坐标范围并根据该范围R(δx,δy)、G(δx,δy)、B(δx,δy)划定档位;各档位发光芯片的应用方法如下:采用属于同一档位的发光芯片或档位递增或递减的发光芯片制作LED显示屏。本发明能够消除COB封装显示屏的颜色差异或使显示屏颜色渐变,增加了人眼观看的舒适性。 | ||
搜索关键词: | 发光芯片 档位 分档 色差 色坐标 人眼 显示屏 屏幕显示效果 应用 颜色差异 颜色渐变 可识别 三基色 色度学 舒适性 椭圆 麦克 递减 递增 芯片 测试 观看 制作 | ||
【主权项】:
1.一种消除色差的发光芯片分档方法,其特征在于包括下述步骤:步骤一:测试每颗LED发光芯片的CIE1931色坐标(x,y),该二维坐标能够代表单颗发光芯片的颜色;步骤二:根据色度学理论中的麦克亚当颜色椭圆宽容量范围结合屏幕显示效果确定红、绿、蓝三基色的人眼恰可识别CIE1931色坐标范围R(δx,δy),G(δx,δy),B(δx,δy);步骤三:根据CIE 1931色坐标范围R(δx,δy)、G(δx,δy)、B(δx,δy)划定档位;针对任一基色的发光芯片,使得同属于一个档位内的该基色发光芯片的色坐标范围小于或等于步骤二确定的CIE 1931色坐标范围。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春希达电子技术有限公司,未经长春希达电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810711682.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:太阳能电池的检测方法与检测系统
- 下一篇:一种p型SiC衬底判定方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造