[发明专利]一种材料光致热效应的温度测量方法在审
| 申请号： | 201810710070.4 | 申请日： | 2018-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN108775973A | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 程培红;赵洪霞;安鹏;袁红星;汪玲芳;魏鑫梁;吴娜 | 申请（专利权）人： | 宁波工程学院 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 宁波市鄞州盛飞专利代理事务所(特殊普通合伙) 33243 | 代理人： | 洪珊珊 |
| 地址： | 315000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种材料光致热效应的温度测量方法，涉及温度测量技术领域，其包括：使用激光照射光纤光栅，测量光纤光栅在激光照射下温度升高引起的共振波长的第一偏移量Δλ1；将待测材料包覆在光纤光栅的表面，并使用同样的激光照射光纤光栅，测量光纤光栅共振波长的第二偏移量Δλ2；根据第一偏移量Δλ1和第二偏移量Δλ2，确定激光照射使待测材料产生的温度变化量。本发明提出了一种材料光致热效应的温度测量方法，结构简单、易于实现、测量精度高，适用于对材料与光纤等衬底界面处局部光热温度变化的实时检测。 | ||
| 搜索关键词： | 热效应 温度测量 测量光纤光栅 激光照射光纤 光栅 待测材料 第一偏移 共振波长 激光照射 偏移量 温度测量技术 测量精度高 衬底界面处 温度变化量 光纤光栅 实时检测 光热 包覆 光纤 | ||
【主权项】：
1.一种材料光致热效应的温度测量方法，其特征在于，包括：使用激光照射光纤光栅，测量光纤光栅在激光照射下温度升高引起的共振波长的第一偏移量Δλ1；将待测材料包覆在光纤光栅的表面，并使用同样的激光照射光纤光栅，测量光纤光栅共振波长的第二偏移量Δλ2；根据第一偏移量Δλ1和第二偏移量Δλ2，确定激光照射使待测材料产生的温度变化量。
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