[发明专利]一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置及设备在审
| 申请号： | 201810688073.2 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108875238A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 李艳军 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种耦合电容参考层挖空的检查方法，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据检查需求确定待检查高速线；查询与待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据位置信息及检查规则确定待检查区域；判断待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录该耦合电容的参考层挖空不满足要求。本申请所提供的技术方案，通过自动检查PCB高速线的串联耦合电容的参考层挖空是否满足要求的方式，避免了人工检查工作效率低下、易漏检的情况，节省了人力资源，提高了检查质量和效率，缩短PCB设计的开发周期，同时使用范围广，推广度高。本申请同时还提供了一种耦合电容参考层挖空的检查装置、设备及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合电容 参考层 挖空 检查 高速线 检查规则 检查区域 申请 计算机可读存储介质 串联耦合电容 装置及设备 工作效率 检查装置 接收输入 开发周期 人工检查 人力资源 铜箔覆盖 需求确定 自动检查 漏检 串联 查询 记录 | ||
【主权项】：
1.一种耦合电容参考层挖空的检查方法，其特征在于，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据所述检查需求确定待检查高速线；查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；判断所述待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。
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