[发明专利]基于快轴可调弹光调制的全斯托克斯矢量检测装置及方法在审
| 申请号： | 201810684302.3 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108645516A | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 李克武;王爽;王志斌;李晓 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 申绍中 |
| 地址： | 030051*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明属于光偏振态的测量方法及仪器设备技术领域，具体涉及一种基于快轴可调弹光调制的全斯托克斯矢量检测装置及方法，该装置，包括45°双驱动对称结构弹光调制器、检偏器、光电探测器、FPGA控制模块和控制电脑，待测光源依次通过45°双驱动对称结构弹光调制器和检偏器后被光电探测器探测，45°双驱动对称结构弹光调制器通过LC谐振高压驱动电路与FPGA控制模块连接，光电探测器通过信号采集单元AD与FPGA控制模块连接，FPGA控制模块与控制电脑连接。克服了采用液晶相位延迟器、电光调制器等相位调制方法耗时，多次测量实现全部斯托克斯矢量测量的不足，所述发明同时实现全部斯托克斯矢量的单次测量时间在毫秒量级。 | ||
| 搜索关键词： | 光电探测器 对称结构 光调制器 双驱动 斯托克斯矢量检测 控制电脑 光调制 检偏器 可调 快轴 测量方法及仪器 液晶相位延迟器 高压驱动电路 设备技术领域 信号采集单元 电光调制器 单次测量 多次测量 光偏振态 毫秒量级 矢量测量 矢量 等相位 调制 光源 耗时 探测 | ||
【主权项】：
1.一种基于快轴可调弹光调制的全斯托克斯矢量检测装置，其特征在于：包括45°双驱动对称结构弹光调制器(2)、检偏器(4)、光电探测器(5)、FPGA控制模块(7)和控制电脑(8)，待测光源(1)依次通过45°双驱动对称结构弹光调制器(2)和检偏器(4)后被光电探测器(5)探测，45°双驱动对称结构弹光调制器(2)通过LC谐振高压驱动电路(3)与FPGA控制模块(7)连接，光电探测器(5)通过信号采集单元AD(6)与FPGA控制模块(7)连接，FPGA控制模块(7)与控制电脑(8)连接。
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