[发明专利]基于残差进化算法的多LED太阳光光谱合成LED类型选择方法有效
| 申请号： | 201810668301.X | 申请日： | 2018-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN108954040B | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 陈庆光;薛凌云 | 申请（专利权）人： | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号： | F21K9/64 | 分类号： | F21K9/64;F21V9/02;G06N3/00;F21Y115/10 |
| 代理公司： | 33246 浙江千克知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周希良 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于残差进化算法的多LED太阳光光谱合成LED类型选择方法，包括以下步骤：S1计算光谱匹配度的残差分布,寻找最大残差所在波段位置；S2选择对应的LED种类；S3利用差分进化算法对当前LED类型组合下的光谱合成工作参数进行优化，计算得到当前LED类型组合下的光谱合成优化结果并判断是否满足要求；迭代直至光谱匹配度满足设计要求，输出LED类型选择的结果。采用本方法选择合适的LED用于太阳光光谱合成，整个方法的步骤简洁，需要进行的工作量相对小、需要的时间的较短；本方法计算的准确率高，能有效保证LED类型选择对光谱匹配的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱合成 太阳光 光谱匹配度 进化算法 残差 差分进化算法 波段位置 残差分布 方法选择 工作参数 光谱匹配 优化结果 最大残差 准确率 迭代 工作量 输出 优化 保证 | ||
【主权项】：
1.基于残差进化算法的多LED太阳光光谱合成LED类型选择方法，包括以下步骤：/nS1.计算光谱匹配度的残差分布,寻找最大残差所在波段位置；/nS2.选择对应的LED种类；/nS3.利用差分进化算法对当前LED类型组合下的光谱合成工作参数进行优化，计算得到当前LED类型组合下的光谱合成优化结果并判断是否满足要求；迭代直至光谱匹配度满足要求，输出LED类型选择的结果；/n所述步骤S1具体为：/n(1)获取产品库中每种类型的LED在额定工作电流下的光谱分布S(λ)；/n(2)利用高斯函数数值表达LED的光谱功率分布，实现LED光谱的可计算；/n(3)初始化参数：确定光谱匹配度的失配比目标值T
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