[发明专利]过滤器元件分析系统及相关方法有效
| 申请号： | 201810667991.7 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN109115663B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | E.阿米尔纳斯尔;A.斯科普;M.海因兹曼 | 申请（专利权）人： | 曼·胡默尔有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;B01D35/00;B01D46/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 董均华;傅永霄 |
| 地址： | 德国路*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种过滤器介质分析系统，使用微粒积聚来闭合沿无源电路设置的凹口或空隙，其中，凹口闭合致使电路被激活并在特定频率下传送信号，其中，激活和传送与过滤器介质的寿命周期点相关联。 | ||
| 搜索关键词： | 过滤器 元件 分析 系统 相关 方法 | ||
【主权项】：
1.一种过滤器元件监测系统，所述系统包括：具有过滤器介质（10）的过滤器元件；设置于过滤器介质上的无源电路（20）；所述无源电路具有设置在其电路系统中的至少一个凹口（210），所述电路系统配置成在清洁状态下提供无源电路（210）的第一状态；发射器和接收器，配置成发射信号从而向无源电路（20）提供电力，并且配置成从无源电路（20）处接收信息；其中，流配置成被导向穿过过滤器介质（10），其中，所述过滤器介质（10）配置成从所述流移除微粒；以及其中，所述介质（10）配置成收集微粒（4）的积聚，直到达到污染状态，在污染状态中，过滤器介质（10）变形或达到特定的微粒负载，其中，在污染状态中，所述电路系统配置成提供无源电路（20）的第二状态。
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