[发明专利]一种遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法有效
申请号: | 201810649055.3 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN108920794B | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 吴玉光;王伟 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06F30/17 | 分类号: | G06F30/17;G06T7/62;G06F17/10 |
代理公司: | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人: | 周希良 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提出一种三基准体系下双直径要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法,包括:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;全部基准要素由一个平面要素和两个直径要素组成;S2,根据D_DFS建立设计坐标系,根据M_DFS建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系,以定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,以计算所述双直径要素检验公差带;曲柄的长度为两个虚线圆与其相对应的实线圆的半径之差的较小值。本发明所述方法适用于多个基准遵循公差相关要求的转移公差的计算,具有较高的理论意义和使用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 遵循 公差 相关 要求 要素 检验 计算方法 | ||
【主权项】:
1.一种三基准体系下双直径要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;所述全部基准要素由一个平面要素和两个直径要素组成,且所述两个直径要素为圆柱要素时垂直于平面要素;S2,从所建立的D_DFS和M_DFS中,选取两个或三个D_DFS构成D_DFS构件,选取两个或三个M_DFS构成M_DFS构件;根据所述D_DFS构件建立设计坐标系,根据所述M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据所述相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据平行四边形机构和摆杆机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带;所述平行四边形机构包括连杆,连杆的长度由两个直径要素的M_DFS的位置尺寸确定;所述摆杆机构以所述连杆为机架,以曲柄与连杆的铰接点为摆动中心摆动;所述平行四边形机构中曲柄的长度为两个虚线圆与其相对应的实线圆的半径之差的较小值,曲柄在各个位置时摆杆的摆动角度范围根据M_DFS和D_DFS构件的几何形状和尺寸进行计算。
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