[发明专利]基于DMD的自适应狭缝可调光谱探测方法及系统有效
| 申请号： | 201810644628.3 | 申请日： | 2018-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN108827467B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 邢飞;傅晟;尤政 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01J3/04 | 分类号： | G01J3/04 |
| 代理公司： | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于DMD的自适应狭缝可调光谱探测方法及系统，其中，系统包括：数字微镜器件DMD，用于将待探测区域通过望远成像镜头成像在DMD上得到反射光信号，其中，在光谱探测之前，数字微镜器件DMD的微镜阵列为关闭状态；单像素探测器，用于根据反射光信号得到光辐射强度信息；光谱探测器，用于根据反射光信号得到光谱信息；处理器，用于根据光辐射强度信息调整开状态微镜阵列的狭缝宽度，并根据光谱信息得到光谱探测结果。该系统通过光辐射强度信息自适应的调整DMD上的狭缝位置和宽度以实现光谱探测，从而有效提高光谱探测的适用性和灵活性，简单易实现。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱探测 光辐射 反射光信号 强度信息 自适应 狭缝 数字微镜器件 光谱信息 可调 光谱探测器 成像镜头 探测区域 微镜阵列 狭缝位置 单像素 开状态 处理器 探测器 望远 微镜 成像 | ||
【主权项】：
1.一种基于DMD的自适应狭缝可调光谱探测系统，其特征在于，包括：/n数字微镜器件DMD，用于将待探测区域通过望远成像镜头成像在所述DMD上得到反射光信号，其中，在光谱探测之前，数字微镜器件DMD的微镜阵列为关闭状态；/n单像素探测器，用于根据所述反射光信号得到光辐射强度信息；/n光谱探测器，用于根据开状态微镜阵列的狭缝宽度调整的所述反射光信号得到光谱信息；以及/n处理器，用于根据所述光辐射强度信息调整开状态微镜阵列的狭缝宽度，且进一步用于根据所述开状态微镜阵列的狭缝宽度调整狭缝处的光通量，并根据所述光谱信息得到光谱探测结果。/n
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