[发明专利]一种降低双光束光阱系统中低频噪声的装置和方法有效
| 申请号： | 201810635958.6 | 申请日： | 2018-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN108801602B | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 肖光宗;邝腾芳;熊威;韩翔;罗晖 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 湖南省国防科技工业局专利中心 43102 | 代理人： | 冯青 |
| 地址： | 410073 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种降低双光束光阱系统中低频噪声的装置和方法。装置包括2×1光分束器、位置传感器和光电探测器组成，两束激光分别经过2×1光分束器后相向对准形成光阱捕获微粒。微球位置传感器和两个光电探测器连接计算机，实时采集这三个探测器的信号。首先，计算得到两个光电传感器的归一化差分结果，并将该结果转换成等效微球位置波动。而后，使用滤波器滤除等效微球位置波动中频域不相关的成分，最后，滤波后的信号从位置传感器中的信号中减去，得到低噪声的信号。本装置结构简单、实用效果强、成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 降低 光束 系统 低频 噪声 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种降低双光束光阱系统中低频噪声的装置，包括2×1光分束器、位置传感器和光电探测器，2×1光分束器和光电探测器各有二个，一个2×1光分束器和一个光电探测器组成一组，二组分别位于装置的两端，其特征在于，装置的中部为样品室，微球置于样品室内，位置探测器置于样品室上方；装置两端分别设置激光器，两束激光分别经过2×1光分束器后相向对准形成光阱捕获微粒，所述位置传感器垂直于样品室放置，用于实时探测微粒的位置；所述光电探测器连接2×1光分束器的一端，用于测量对向的透射光；所述位置传感器和两个光电探测器连接计算机，实时采集位置传感器和光电探测器的信号。
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