[发明专利]烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置

摘要

本发明涉及一种烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置，外轮廓及非必须通电部件均采用绝缘体材料，可充分保障试验人员的人身安全，绝缘材料使用耐高温绝缘材料，导电部件原材料使用紫铜，达到轻便耐用，制作成本低的效果。此外，本装置在底板上放置两个卡槽，其中，可移动卡槽沿着试件的长度方向可移动，卡槽包含多个试件卡口，各卡口通过导线采用串联模式，可实现多个焊件同时通电，确保施加电流密度及试验环境相同，可达到降低试验成本，缩短试验周期，提高试验效率及试验精度的效果。另外，本发明可通过沿试件长度方向移动卡槽大小，可以适用于较广尺寸范围的试件试验，可达到减少试验模具从而降低试验成本的效果。

主权项

1.一种烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置，其特征在于包括固定卡螺丝(1)、固定卡(2)、螺母孔(3)、调距螺丝(4)、导电铜片(5)、散热孔(6)、固定螺丝(7)、绝缘试件固定片(8)、底座(9)、可移动卡槽(10)、固定卡槽(11)、底座螺孔(12)和通电导线(13)；在底座(9)上表面对称放置可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)，可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)通过固定卡(2)和固定卡螺丝(1)固定在底座(9)上，可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)上设置多个卡槽，各卡槽内设有导电铜片(5)，导电铜片(5)的另一端连通到底座(9)的下表面，下表面相邻的导电铜片(5)通过通电导线(13)斜向连接实现串联，最两端的导电铜片(5)分别连接电源，在可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)的侧面均设有螺母孔(3)，螺母孔(3)连接调距螺丝(4)，可移动卡槽(10)通过调距螺丝(4)在底座上表面沿着试件长度方向移动，实现对卡槽长度方向大小的调节，在相对的导电铜片(5)之间设有散热孔(6)，在底座(9)上设有底座螺孔(12)，固定螺丝(7)穿过绝缘试件固定片(8)固定在底座螺孔(12)中。