[发明专利]烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置在审
| 申请号： | 201810627044.5 | 申请日： | 2018-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN109001559A | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 宫贺;姚尧;张倩;王俊东;汤文斌;王绍斌 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 刘新琼 |
| 地址： | 710072 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 试件 烧结纳米 试验成本 通电试验 电制 卡槽 卡口 损伤 耐高温绝缘材料 底板 长度方向移动 绝缘体材料 紫铜 串联模式 导电部件 绝缘材料 卡槽大小 可移动卡 人身安全 试件试验 试验环境 试验模具 试验效率 试验周期 通电部件 可移动 外轮廓 轻便 试验 焊件 通电 施加 制作 | ||
1.一种烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置，其特征在于包括固定卡螺丝(1)、固定卡(2)、螺母孔(3)、调距螺丝(4)、导电铜片(5)、散热孔(6)、固定螺丝(7)、绝缘试件固定片(8)、底座(9)、可移动卡槽(10)、固定卡槽(11)、底座螺孔(12)和通电导线(13)；在底座(9)上表面对称放置可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)，可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)通过固定卡(2)和固定卡螺丝(1)固定在底座(9)上，可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)上设置多个卡槽，各卡槽内设有导电铜片(5)，导电铜片(5)的另一端连通到底座(9)的下表面，下表面相邻的导电铜片(5)通过通电导线(13)斜向连接实现串联，最两端的导电铜片(5)分别连接电源，在可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)的侧面均设有螺母孔(3)，螺母孔(3)连接调距螺丝(4)，可移动卡槽(10)通过调距螺丝(4)在底座上表面沿着试件长度方向移动，实现对卡槽长度方向大小的调节，在相对的导电铜片(5)之间设有散热孔(6)，在底座(9)上设有底座螺孔(12)，固定螺丝(7)穿过绝缘试件固定片(8)固定在底座螺孔(12)中。
2.根据权利要求1所述的一种烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置，其特征在于所述的固定卡(2)、底座(9)、可移动卡槽(10)和固定卡槽(11)均采用耐高温绝缘体材料。
3.根据权利要求1所述的一种烧结纳米银节点电制损伤的高效通电试验装置，其特征在于在底座(9)的下表面的四个角处设有绝缘橡胶垫(14)。
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