[发明专利]偏光片的吸收轴的量测装置及量测方法有效
| 申请号： | 201810620985.6 | 申请日： | 2018-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN108776399B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 海博 | 申请（专利权）人： | 惠州市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 516000 广东省惠州市仲恺高新技术*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏光片的吸收轴的量测装置及量测方法。该量测装置包括入射光、偏光子、样品载台和测试模块；样品载台用于承载偏光片，其中，偏光片覆盖样品载台的透光孔，入射光经偏光子偏振后穿过透光孔和偏光片；测试模块用于获取穿过透光孔和偏光片的入射光的光强强度的最小值对应的第一吸收轴角度值以及获取偏光片对应的吸收轴补偿值，并根据第一吸收轴角度值和吸收轴补偿值获取第二吸收轴角度值。通过上述方式，本发明不需要配置入射光的偏振方向以及样品载台中放置或偏贴偏光片的结构例如卡槽的方向，只需要保持偏光子和样品载台中放置或偏贴偏光片的结构例如卡槽等硬件基准边的角度不变即可以量测偏光片的吸收轴，方式简单且容易实现。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 吸收 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种偏光片的吸收轴的量测装置，其特征在于，所述量测装置包括入射光、偏光子、样品载台和测试模块；所述样品载台用于承载所述偏光片，其中，所述偏光片覆盖所述样品载台的透光孔，所述入射光经所述偏光子偏振后穿过所述透光孔和所述偏光片；所述测试模块用于获取穿过所述透光孔和所述偏光片的所述入射光的光强强度的最小值对应的第一吸收轴角度值以及获取所述偏光片对应的吸收轴补偿值，并根据所述第一吸收轴角度值和所述吸收轴补偿值获取第二吸收轴角度值。
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