[发明专利]用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置

摘要

本发明公开了一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置，涉及光模块测试领域。该测试装置包括主控单元、母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光开光、光电眼图仪，母板、TX子板、RX子板三板分离，母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光电眼图仪均与主控单元连接；母板给TX子板、RX子板提供电源，产生频率连续可调的时钟信号，提供调制信号，检测接收信号的误码率；TX子板完成并行12路高速信号的产生和检测；RX子板集成用于连接待测品的插座和高频连接器，主控单元控制多路电开关的切换，使信号分别流向光电眼图仪或母板。本发明能显著降低成本、提高生产效率、精简结构、缩小体积。

主权项

1.一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置，包括主控单元，其特征在于：该测试装置还包括母板、发端TX子板、收端RX子板、多路电开关、光开关 、光电眼图仪，所述母板、TX子板、RX子板三板分离，母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光电眼图仪均与主控单元连接；母板给TX子板、RX子板提供电源，母板包括第一时钟基准源、一个信号发生和处理芯片、第一MCU处理器、一个标准光源、三个天线接口SMA高频连接器：SMA1、SMA2、SMA3，第一时钟基准源在主控单元的控制下，输出频率连续可调的时钟信号，该时钟信号有两路，一路时钟信号接到SMA1、SMA2，用于分别向TX子板和光电眼图仪提供同源时钟；另外一路时钟信号给信号发生和处理芯片提供参考时钟；信号发生和处理芯片给标准光源提供调制信号，同时用来检测SMA3发过来的信号的误码率；/nTX子板包括有第二时钟基准源、一个时钟分配单元、6个信号发生和处理芯片、第二MCU处理器、一个选择开关、两个SMA高频连接器：SMA4、SMA5，第二时钟基准源将一路信号连接至SMA4，另外一路给时钟分配单元；时钟分配单元支持2路时钟输入、10路差分信号输出，2路时钟输入一路来自第二时钟基准源，另外一路连接至SMA5，用外来时钟源作为输入，通过选择开关来选择哪一路输入；10路差分信号中的6路分别给6个信号发生和处理芯片作为参考时钟输入源，每一个信号发生和处理芯片同时处理2路信号，TX子板同时完成并行12路高速信号的产生和检测，第二MCU处理器连接至主控单元，整个TX子板独立用作一个12路的高速误码仪；RX子板集成有用于连接待测品的插座和高频连接器，所述插座包括四通道小型化可插拔模块QSFP+插座、100G可插拔模块CFP插座、120G光模块CXP插座，高频连接器与多路电开关相连，主控单元控制多路电开关的切换，使信号分别流向光电眼图仪或母板。/n