[发明专利]用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置

说明书

本发明公开了一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置，涉及光模块测试领域。该测试装置包括主控单元、母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光开光、光电眼图仪，母板、TX子板、RX子板三板分离，母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光电眼图仪均与主控单元连接；母板给TX子板、RX子板提供电源，产生频率连续可调的时钟信号，提供调制信号，检测接收信号的误码率；TX子板完成并行12路高速信号的产生和检测；RX子板集成用于连接待测品的插座和高频连接器，主控单元控制多路电开关的切换，使信号分别流向光电眼图仪或母板。本发明能显著降低成本、提高生产效率、精简结构、缩小体积。

技术领域

本发明涉及光通信中光模块测试领域，具体是涉及一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置。

背景技术

当前光传输网络中骨干传输网、城域传输网、接入网等都面临不断增加的带宽需求，40G速率以上的光模块已经成为网络主力军。在高速模块方案中，并行多通道光模块因其较高的性价比和方案适应性在光网上得到广泛应用，例如QSFP+(Quad Small Form-factor Pluggable，四通道小型化可插拔模块)、CFP(100Gigabit Form factorPluggable，100G可插拔模块)、CXP(120Gb/s 12x Small Form factor Pluggable，120G光模块)类光模块，在研发和生产制造过程中，光纤传输系统中并行多通道光模块(40Gbs～120Gbs)涉及的测试指标非常多，因其多通道的特点，用于实现各项参数测试的硬件测试装置需要多通道信号发生器、多通道误码仪，多通道信号发生器、多通道误码仪的价格动辄百万人民币以上，其通道数越多，价格越昂贵；而完成所有指标测试需要的系统搭建复杂，且并不能找到既有的满足要求的硬件测试装置。

现有测试装置需要昂贵的多通道信号发生器、误码仪，由于测试工序较多，这种多通道信号发生器和误码仪在生产时要复用，导致生产效率很低；测试光电眼图时，需要时钟恢复模块、多个多路光开关和电开关，测试系统庞大且复杂。

发明内容

本发明的目的是为了克服上述背景技术的不足，提供一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置，能够显著降低成本、提高生产效率、精简结构、缩小体积。

本发明提供一种用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置，该测试装置包括主控单元、母板、发端TX子板、收端RX子板、多路电开关、光开光、光电眼图仪，所述母板、TX子板、RX子板三板分离，母板、TX子板、RX子板、多路电开关、光电眼图仪均与主控单元连接；母板给TX子板、RX子板提供电源，产生频率连续可调的时钟信号，提供调制信号，检测接收信号的误码率；TX子板完成并行12路高速信号的产生和检测；RX子板集成有用于连接待测品的插座和高频连接器，所述插座包括四通道小型化可插拔模块QSFP+插座、100G可插拔模块CFP插座、120G光模块CXP插座，高频连接器与多路电开关相连，主控单元控制多路电开关的切换，使信号分别流向光电眼图仪或母板。

在上述技术方案的基础上，所述母板包括第一时钟基准源、一个信号发生和处理芯片、第一MCU处理器、一个标准光源、三个天线接口SMA高频连接器：SMA1、SMA2、SMA3，第一时钟基准源在主控单元的控制下，输出频率连续可调的时钟信号，该时钟信号有两路，一路时钟信号接到SMA1、SMA2，用于分别向TX子板和光电眼图仪提供同源时钟；另外一路差分时钟信号给信号发生和处理芯片提供参考时钟；信号发生和处理芯片给标准光源提供调制信号，同时用来检测SMA3发过来的信号的误码率。

在上述技术方案的基础上，所述第一时钟基准源输出的时钟信号的频率范围为155.4MHz～176.8MHz。