[发明专利]一种用于评估DeMura设备亮度测量精度的方法有效
申请号: | 201810608731.2 | 申请日: | 2018-06-13 |
公开(公告)号: | CN108831358B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 冯晓帆;郑增强;刘钊;马尔威;吴红君;刘荣华;沈亚非 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 赵伟 |
地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法,通过在原灰阶图像上添加随机数生成加噪图像,并将通过DeMura设备显示的加噪图像得到与添加的随机数对应的测量值,根据这个测量值与原始添加的随机数之间的相关性来评估Demura设备亮度测量精度,衡量Demura设备亮度提取性能,本发明提供的这种方法评估DeMura设备亮度数据测量精度的方法相比于采用SNR、或者采用CrossTalk测试方法来衡量DeMura设备亮度测量精度的现有技术,可以获得测试值与实际值的偏差,提供了定量可测的、更能反映Demura设备实际性能的判定方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 评估 demura 设备 亮度 测量 精度 方法 | ||
【主权项】:
1.一种评估DeMura设备亮度数据测量精度的方法,其特征在于,通过在灰阶图像上添加随机数生成加噪图像,并根据通过待评估DeMura设备显示的加噪图像得到与添加的随机数对应的测量值,根据所述测量值与原始添加的随机数之间的相关性来评估Demura设备亮度测量精度。
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