[发明专利]一种用于评估DeMura设备亮度测量精度的方法

说明书

本发明公开了一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法，通过在原灰阶图像上添加随机数生成加噪图像，并将通过DeMura设备显示的加噪图像得到与添加的随机数对应的测量值，根据这个测量值与原始添加的随机数之间的相关性来评估Demura设备亮度测量精度，衡量Demura设备亮度提取性能，本发明提供的这种方法评估DeMura设备亮度数据测量精度的方法相比于采用SNR、或者采用CrossTalk测试方法来衡量DeMura设备亮度测量精度的现有技术，可以获得测试值与实际值的偏差，提供了定量可测的、更能反映Demura设备实际性能的判定方法。

技术领域

本发明属于OLED显示面板缺陷识别技术领域，更具体地，涉及一种评估DeMura设备亮度数据测量精度的方法。

背景技术

OLED(有机发光二极管)Demura(Mura消除)设备用于提取OLED 面板的亮度，计算补偿数据，对OLED面板生产中出现的Mura缺陷进行外部补偿，减轻或消除Mura缺陷，提升产品的显示效果和良率。由于Demura设备的亮度提取精度所存在的差异会直接影响补偿效果，因此需要对该类设备的性能进行评估；这里的精度是指显示面板的亚像素亮度提取的精度，即显示面板的亚像素亮度的测量值与真实值之间的偏差。

现有技术中，对OLED DeMura设备的性能评估采用SNR、串扰值、人眼查看补偿效果等方式，但是没有统一的标准。SNR指标可反映DeMura设备的测量重复性能，即多次测量值的偏差，但不能准确反映DeMura设备的测量准确度，即测量值与真实值的偏差。串扰值指标可反映Demura设备的测量空间精度，但也同样不能准确反映DeMura设备的测量准确度。人眼查看补偿效果的方式是检测Demura设备好坏的最终标准，但是受到人的主观感受的影响，而且受到补偿算法的干扰，难以量化，也难以实施。

现有技术无法准确的评估DeMura设备对Sandy Mura(沙粒状Mura) 等Mura的修复效果；液晶面板领域的测试、科研及生产对准确评估DeMura设备亮度数据测量精度的技术提出了迫切的需求。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法，其目的在于提高对DeMura设备亮度测量精确度评估的准确度。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法，通过在灰阶图像上添加随机数生成加噪图像，并根据通过DeMura设备显示的加噪图像得到与添加的随机数对应的测量值，根据所述测量值与原始添加的随机数之间的相关性来评估Demura设备亮度测量精度。

优选地，上述评估DeMura设备亮度测量精度的方法，其添加随机变数的方法，是在每一个亚像素上都叠加一个随机数，或者是每一个周期几个像素上叠加一个随机数，或者在随机的位置上叠加一个随机数。

优选地，上述评估DeMura设备亮度测量精度的方法，其添加随机数取±10之间的值，优选取2～10之间的值。

优选地，上述评估DeMura设备亮度测量精度的方法，其相关性

其中，Rx是指添加的随机数，Rx_Mesure是指与添加的随机数对应的测量值，Cov(Rx_Mesure,Rx)为Rx_Mesure与Rx的协方差，Var(Rx_Mesure)为Rx_Mesure的方差，Var(Rx)为Rx的方差。

本发明提供的一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法，具体包括如下步骤：

(1)驱动OLED面板显示不同灰阶的多个图像画面；

(2)采用待评估DeMura设备提取每个所述图像画面的亚像素的亮度数据；