[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201810575686.5 申请日: 2018-06-06
公开(公告)号: CN109307778B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 藤井大和;濑户丸武 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 万捷;俞丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及自动分析装置,提供一种技术在具备探针保护器时,确保操作者的安全性的同时,能实现容器的操作的方便性、容易性等。包括探针保护器(24),其相对于包含检体盘(1)的分配位置的一部分区域可进行安装和拆卸,在探针(32)的轨道周边具有保护壁。探针保护器(24)具有针对一部分区域的固定部(螺钉25)和插入部(突起45),具有在通过操作者安装或拆卸探针保护器(24)时,检测固定部的状态的第一机构(201)和检测插入部的状态的第二机构(202)。自动分析装置在探针保护器被拆卸时,检测到固定部的非固定状态时使分配动作转移至停止状态,检测到插入部的非插入状态时切断对分配动作所涉及的机构提供的驱动电力。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1.自动分析装置,其特征在于,包括:检体容器设置机构,该检体容器设置机构设置有收纳了检体的检体容器;试剂容器设置机构,该试剂容器设置机构设置有收纳了试剂的试剂容器;反应容器设置机构,该反应容器设置机构设置有收纳所述检体和所述试剂的反应液的反应容器;检体分配机构,该检体分配机构包含用于进行从所述检体容器设置机构的所述检体容器吸引所述检体并喷出至所述反应容器设置机构的所述反应容器的分配动作的探针;试剂分配机构,该试剂分配机构包含用于进行从所述试剂容器设置机构的所述试剂容器吸引所述试剂并喷出至所述反应容器设置机构的所述反应容器的试剂分配动作的试剂探针;光度计,该光度计对所述反应容器设置机构的所述反应容器的所述检体进行光学测定;计算机,该计算机基于所述光学测定的信号进行分析处理;控制部,该控制部对包含所述分配动作的分析动作进行控制;探针保护器,该探针保护器相对于包含所述检体容器设置机构的分配位置的一部分区域可由操作者进行安装和拆卸,在所述探针的轨道周边具有保护壁;固定部和插入部,该固定部和插入部相对于所述一部分区域设于所述探针保护器;以及第一机构和第二机构,在所述探针保护器被安装或拆卸的情况下,该第一机构检测所述固定部的状态,该第二机构检测所述插入部的状态,在所述探针保护器被拆卸时,检测到所述固定部的非固定状态时使所述分配动作转移至停止状态,检测到所述插入部的非插入状态时切断对所述分配动作涉及的机构提供的驱动电力,在所述探针保护器被安装时,检测到所述插入部的插入状态时对所述分配动作涉及的机构提供驱动电力,检测到所述固定部的固定状态时使所述分配动作转移至执行状态。
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