[发明专利]膜检测装置及膜检测方法在审
申请号: | 201810551941.2 | 申请日: | 2018-05-31 |
公开(公告)号: | CN108896708A | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 盛超 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00;B25H3/04 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请公开一种膜检测装置及膜检测方法。所述膜检测装置的入料区设置有相邻的传送机构和缓存架,缓存架包括多层可上下移动的收容机构,该收容机构用于暂存待检测成膜件。基于此,本申请能够有利于提高整个检测流程的协调性,提高检测效率。 | ||
搜索关键词: | 膜检测装置 收容机构 膜检测 检测 可上下移动 传送机构 缓存架 入料区 协调性 成膜 多层 暂存 申请 | ||
【主权项】:
1.一种膜检测装置,包括入料区和检测区,其特征在于,所述入料区设置有相邻的传送机构和缓存架,所述传送机构用于将待检测成膜件传送至检测区,所述收容机构用于暂存待检测成膜件且可上下移动。
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