[发明专利]在离子阱中同时进行正负离子分析的方法有效
申请号: | 201810534658.9 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN108538702B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 余泉;李曼;王晓浩;钱翔;倪凯 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院 |
主分类号: | H01J49/26 | 分类号: | H01J49/26 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 徐罗艳 |
地址: | 518055 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种在离子阱中同时进行正负离子分析的方法,其特征在于:所述离子阱是由两个独立的离子阱轨道围成的环形离子阱,每个所述离子阱轨道均由四个独立的电极板围成其离子分析区域;所述方法包括:在所述环形离子阱的离子入射、分离阶段和离子分析阶段,均分别向两个所述离子阱轨道施加方向相反的直流恒定电压,使离子入射到所述环形离子阱内时按正负分离至两个所述离子阱轨道,从而使得在离子分析阶段,其中一个离子阱轨道进行正离子分析的同时,另一个离子阱轨道进行负离子分析。通过本发明可实现在同一个离子阱内正负离子的分离和同时分析。 | ||
搜索关键词: | 离子阱 轨道 离子分析 正负离子 分析 入射 离子 直流恒定电压 方向相反 分离阶段 电极板 负离子 正离子 施加 | ||
【主权项】:
1.一种在离子阱中同时进行正负离子分析的方法,其特征在于:所述离子阱是由两个独立的离子阱轨道围成的环形离子阱,每个所述离子阱轨道均由四个独立的电极板围成其离子分析区域;所述方法包括:在所述环形离子阱的离子入射阶段和离子分析阶段,均分别向两个所述离子阱轨道额外施加方向相反的直流恒定电压,使离子入射到所述环形离子阱内时按正负分离至两个所述离子阱轨道,从而使得在离子分析阶段,其中一个离子阱轨道进行正离子分析的同时,另一个离子阱轨道进行负离子分析;离子入射时,从两个所述离子阱轨道之间的狭缝入射进所述环形离子阱,并在施加于两个所述离子阱轨道上的所述方向相反的直流恒定电压的作用下,正离子朝施加负的直流恒定电压的离子阱轨道移动,同时负离子朝施加正的直流恒定电压的离子阱轨道移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学深圳研究生院,未经清华大学深圳研究生院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810534658.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。