[发明专利]一种用于测量非圆内孔轮廓的检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 201810516914.1 | 申请日： | 2018-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN108801174A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 杨龙兴;杨浩轩;庄孝斌;梁栋;蒋新华 | 申请（专利权）人： | 江苏理工学院 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 陈丽萍 |
| 地址： | 213001 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种检测装置，特别涉及一种用于测量非圆内孔轮廓的检测装置及其检测方法，包括工作台和固定在工作台上的支撑架，支撑架上设有激光位移传感器，工作台上设有用于放置待测零件的平台，平台上方位于待测零件两侧设有用于夹紧待测零件的定位块，定位块包括滑动设置在工作台上的第一V型定位块和第二V型定位块，定位块上连接有驱动其运动的驱动装置，激光位移传感器位于待测零件的上方，激光位移传感器或平台中至少一个是可转动的，本发明采用激光斜线投射测椭圆内径间接换算测量轮廓径向长度的方法，避免了激光位移传感器大于内孔无法测量。 | ||
| 搜索关键词： | 激光位移传感器 待测零件 定位块 内孔 检测装置 测量 支撑架 非圆 测量轮廓 滑动设置 驱动装置 可转动 种检测 检测 椭圆 斜线 工作台 换算 夹紧 投射 激光 驱动 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量非圆内孔轮廓的检测装置，其特征在于：包括工作台(1)和固定在工作台(1)上的支撑架(2)，所述的支撑架(2)上设有激光位移传感器(3)，所述的工作台(1)上设有用于放置待测零件(4)的平台(5)，所述的平台(5)上方位于待测零件(4)两侧设有用于夹紧待测零件(4)的定位块，所述的定位块包括滑动设置在工作台(1)上的第一V型定位块(6)和第二V型定位块(7)，所述的定位块上连接有驱动其运动的驱动装置，激光位移传感器(3)位于待测零件(4)的上方，所述的激光位移传感器(3)或平台(5)中至少一个是可转动的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏理工学院，未经江苏理工学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810516914.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
