[发明专利]一种TD-SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法

摘要

本发明公开了一种TD‑SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法，其步骤如下：首先建立时间序列u(t)的秩序列sk以及将秩序列构造成统计序列再将TD‑SCDMA基站电磁辐射强度时间序列x(t)，倒置获得一个新的时间序列y(t)，其中y(1)＝x(n)，y(2)＝x(n‑1)，...，y(n)＝x(1)，然后再将x(t)、y(t)通过秩序列与统计序列构造出统计序列最后将求得的统计序列和在k＝2，3，...，n的取值进行比较，取值相等处，即为TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的突变点。本发明分析了TD‑SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法，充分地考虑了TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的特点，通过该方法能够快速的对TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的突变点进行检测，具有一定的社会效益。

主权项

1.一种TD‑SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法，其特征在于，包括以下步骤:1)、将时间序列u(t)＝[u(1)，u(2)，...，u(n)]，通过下式构成秩序列sk：ri为判断函数，即表示在时刻i，当序列u(i)的值不小于前面所有时刻序列的值，则ri取值为1，否则为0，其具体表达式为：在式(1)中，sk表示为时间序列u(t)中第i个数值不小于第j个数值的数量累计值；2)、将步骤1)中求得的s_k，构造如下统计序列其中:其中，s_k表示为时间序列u(t)中第i个数值不小于第j个数值的数量累计值，E(s_k)为秩序列s_k的均值，Var(s_k)为秩序列s_k的方差，为构造的统计序列；3)、将TD‑SCDMA基站电磁辐射强度时间序列x(t)＝[x(1)，x(2)，...，x(n)]，单位为V/m，倒置获得一个新的时间序列y(t)＝[y(1)，y(2)，...，y(n)]，其中y(1)＝x(n)，y(2)＝x(n‑1)，...，y(n)＝x(1)，然后再将x(t)、y(t)分别代入步骤1)和步骤2)获得统计序列4)、将步骤3)中获得的统计序列和在k＝2，3，...，n的取值进行比较，取值相等处，即为TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的突变点。