[发明专利]一种TD-SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法

说明书

本发明公开了一种TD‑SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法，其步骤如下：首先建立时间序列u(t)的秩序列s_k以及将秩序列构造成统计序列再将TD‑SCDMA基站电磁辐射强度时间序列x(t)，倒置获得一个新的时间序列y(t)，其中y(1)＝x(n)，y(2)＝x(n‑1)，...，y(n)＝x(1)，然后再将x(t)、y(t)通过秩序列与统计序列构造出统计序列最后将求得的统计序列和在k＝2，3，...，n的取值进行比较，取值相等处，即为TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的突变点。本发明分析了TD‑SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法，充分地考虑了TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的特点，通过该方法能够快速的对TD‑SCDMA基站电磁辐射变化的突变点进行检测，具有一定的社会效益。

技术领域

本发明涉及一种TD-SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法。

背景技术

基站的电磁辐射值的变化随时间不断变化，而基站电磁辐射变化中突变点对于基站电磁辐射的变化和研究具有重要意义，根据基站电磁辐射的特性，基站电磁辐射的突变可通过建立统计序列进行检测，但目前已公开文献和专利，没有基于构建统计序列对基站电磁辐射突变进行检测的方法，用于检测基站电磁辐射的突变点。

针对现有技术中存在的不足，本专利通过建立统计序列的方法，来对TD-SCDMA基站电磁辐射变化的突变进行检测，通过构建时间序列的秩序列s_k，再通过秩序列构造统计序列再将TD-SCDMA基站电磁辐射强度时间序列x(t)，倒置获得一个新的时间序列y(t)，其中y(2)＝x(n)，y(2)＝x(n-1)，...，y(n)＝x(1)，然后再将x(t)、y(t)通过秩序列与统计序列构建最后将求得的统计序列和在k＝2，3，...，n的取值进行比较，取值相等处，即为TD-SCDMA基站电磁辐射变化的突变点。通过实验表明，本专利提出的TD-SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法能快速的对基站电磁辐射突变点进行检测。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种TD-SCDMA基站电磁辐射变化突变检测方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案包括以下步骤：

1)、将时间序列u(t)＝[u(1)，u(2)，...，u(n)]，通过下式构成秩序列s_k：

r_i为判断函数，即表示在时刻i，当序列u(i)的值不小于前面所有时刻序列的值，则r_i取值为1，否则为0，其具体表达式为：

在式(1)中，s_k表示为时间序列u(t)中第i个数值不小于第j个数值的数量累计值；

2)、将步骤1)中求得的s_k，构造如下统计序列

其中:

其中，s_k表示为时间序列u(t)中第i个数值不小于第j个数值的数量累计值，E(s_k)为秩序列s_k的均值，Var(s_k)为秩序列s_k的方差，为构造的统计序列；

3)、将TD-SCDMA基站电磁辐射强度时间序列x(t)＝[x(1)，x(2)，...，x(n)]，单位为V/m，倒置获得一个新的时间序列y(t)＝[y(1)，y(2)，...，y(n)]，其中y(1)＝x(n)，y(2)＝x(n-1)，...，y(n)＝x(1)，然后再将x(t)、y(t)分别代入步骤1)和步骤2)获得统计序列