[发明专利]基于Nand Flash存储器阵列的数据校验方法在审

专利信息
申请号: 201810425329.0 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN108845890A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 苏涛;马文锐;张锐波;张永振 申请(专利权)人: 西安电子科技大学;西安中电科西电科大雷达技术协同创新研究院有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于存储器技术领域,公开了基于Nand Flash存储器阵列的数据校验方法。该方法包括:读取BCH码字,根据BCH码字计算伴随式校正子,利用伴随式校正子判断BCH码字中是否存在错误值,在确定BCH码字中存在错误值后,利用BM迭代算法得到错误多项式,并采用并行钱搜索电路求解错误多项式以确定BCH码字中错误值的位置,进而根据错误值的位置定位错误值并进行纠错,得到纠错后的BCH码字。本发明能够提高检测速度,实现对Nand Flash存储器阵列的快速、高精度的数据校验,从而保证Nand Flash存储器的存储控制器能够无差别读写Nand Flash存储器阵列。
搜索关键词: 数据校验 错误多项式 伴随式 校正子 纠错 存储器技术领域 读取 存储控制器 钱搜索电路 迭代算法 位置定位 读写 求解 并行 检测 保证
【主权项】:
1.一种基于Nand Flash存储器阵列的数据校验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,Nand Flash存储器阵列的存储控制器接收到读取命令后,根据所述读取命令读取所述Nand Flash存储器阵列对应地址存储的BCH码字;步骤2,所述存储控制器根据所述BCH码字计算得到2t个伴随式校正子,进而判断所述2t个伴随式校正子是否均为零;若所述2t个伴随式校正子均为零,则表示所述BCH码字中不存在错误值,执行步骤3;若所述2t个伴随式校正子中存在非零的伴随式校正子,则表示所述BCH码字中存在错误值,执行步骤4;其中,t表示纠错能力数;步骤3,所述存储控制器输出所述BCH码字;步骤4,所述存储控制器利用BM迭代算法求解错误多项式的系数,从而得到错误多项式;利用并行钱搜索电路求解所述错误多项式的根,根据所述错误多项式的根确定所述BCH码字中错误值的位置,进而根据所述错误值的位置定位错误值并进行纠错,得到纠错后的BCH码字,输出所述纠错后的BCH码字。
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